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扫描电子显微镜（简称扫描电镜，SEM）是继透射电镜之后发展起来的一种电镜。与透射电镜的成像方式不同，扫描电镜是用聚焦电子束在样品表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子（被入射电子轰击出来的样品核外电子）、背散射电子（被固体样品中原子反射回来的一部分入射电子）或吸收电子。其中二次电子为主要的成像信号。现以二次电子像的成像过程来说明扫描电镜的工作原理。由电子枪发射的能量为5-35KeV的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成

具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其他物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅较，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。

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1.负荷中的连接，它主要用于对感性负载突然开闭引起的感应脉冲进行吸收，以防止元件受到破坏。一般来说，只要并联在感性负载上就可以了，但根据电流种类和能量大小的不同，可以考虑与R-C串联吸收电路合用。

2.接点间的连接，这种连接主要是为了防止感应电荷开关接点被电弧烧坏的情况发生，一般与接点并联接入压敏电阻器即可。

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