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低电场区域的漏电流
漏电流包括阻性和容性两部分,交流电压下容性电流比阻性电流大得多。温度升高或电场增大,阻性电流增大。压敏电压的温度系数在-10-4/℃—-10-3/℃之间,计算公式如下:
T=dU1mA/(U1mAdT)
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压敏电阻直流作用下的老化机理
直流作用下。反偏压侧的Zni向晶界迁移,中和了部分VZn,使表面受主态密度下降,势垒降低,阻性电流增大。直流电压作用下的老化不对称,是因为测试电压极性如与老化时加的电压一致,电压主要加在正极性侧的耗尽层上,而这一侧可迁移的填隙锌离子已不多;如极性相反,则电压主要加在另一侧的耗尽层上,而这侧有大量的填隙锌离子,所以阻性电流大。
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老化机理:
曾经被认为是老化的起因的有电子陷阱,偶较子转向,氧脱附和离子迁移,目前能证实的只有填隙锌离子迁移。一般认为老化是晶界现象,是由于耗尽层内离子迁移,而Zni是主要的迁移离子。
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